AFM顯微鏡分析,AFM導(dǎo)電性顯微鏡,顯微鏡分析,宜特檢測
導(dǎo)電性原子力顯微鏡(AFM)
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM），具有原子級解析力，是微觀表面結(jié)構(gòu)的重要分析工具。主要原理是藉由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂梁產(chǎn)生微細(xì)位移，以測得樣品表面形貌起伏，可應(yīng)用于多種材料表面檢測。
iST宜特AFM分析優(yōu)勢
兩岸*有可分析12吋wafer的AFM實驗室，保存您完整wafer以便后續(xù)進(jìn)行其他實驗。
外加其他功能顯微鏡，分析應(yīng)用之范圍更擴大。如CAFM導(dǎo)電式原子力顯微鏡（Conductive Atomic Force Microscopy, CAFM）和SCM掃描式電容顯微鏡（Scanning Capacitance Microscopy，SCM)。
AFM服務(wù)項目：
薄膜粗糙度檢測
微觀表面結(jié)構(gòu)研究
2D/3D材料表面形貌
奈米級縱深分析
關(guān)于宜特：
iST始創(chuàng)于1994年的中國臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、材料分析、失效分析、無線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務(wù)據(jù)點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。
**咨詢電話：8009880501
導(dǎo)電性原子力顯微鏡(AFM)
