靜電測(cè)試公司,ESD靜電測(cè)試,上海電子芯片靜電測(cè)試,宜特檢測(cè)
系統(tǒng)/模塊類(lèi)靜電放電試驗(yàn)
靜電放電(Electrostatic Discharge, ESD)是造成大多數(shù)的電子組件或電子系統(tǒng)受到過(guò)度電性應(yīng)力(Electrical Overstress , EOS)破壞的主要因素。這種破壞會(huì)導(dǎo)致半導(dǎo)體組件以及計(jì)算機(jī)系統(tǒng)等，形成一種長(zhǎng)久性的毀壞，因而影響集成電路(Integrated Circuits, ICs)的電路功能，而使得電子產(chǎn)品工作不正常。而靜電放電破壞的產(chǎn)生，多是由于人為因素所形成，但又很難避免。
電子組件或系統(tǒng)在制造、生產(chǎn)、組裝、測(cè) 試、存放、搬運(yùn)等的過(guò)程中，靜電會(huì)累積在人體、儀器、儲(chǔ)放設(shè)備等之中，甚至在電子組件本身也會(huì)累積靜電，而人們?cè)诓恢榈那闆r下，使這些物體相互接觸，因而形了一放電路徑，使得電子組件或系統(tǒng)遭到靜電放電的肆虐。所以產(chǎn)品需要有靜電防護(hù)測(cè)試，因此依據(jù)IEC 61000-4-2所規(guī)范中有分為Contact Discharge、Air Discharge、HCP Contact Discharge、VCP Contact Discharge四種測(cè)試項(xiàng)目。
關(guān)于宜特：
iST始創(chuàng)于1994年的中國(guó)臺(tái)灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、材料分析、失效分析、無(wú)線(xiàn)認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。
**服務(wù)熱線(xiàn)：8009880501
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